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酸浸取 電感耦合等離子質(zhì)譜儀測定多晶硅表面金屬雜質(zhì)

國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 24582-2009 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):已作廢
標(biāo)準(zhǔn)價格:24.0 客戶評分:星星星星1
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用酸從多晶硅塊表面浸取金屬雜質(zhì),并用電感耦合等離子質(zhì)譜儀定量檢測多晶硅表面上的金屬雜質(zhì)痕量分析方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于堿金屬、堿土金屬和第一系列過渡元素如鈉、鉀、鈣、鐵、鎳、銅、鋅以及其他元素如鋁的檢測。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種棒、塊、粒、片狀多晶表面金屬污染物的檢測。由于塊、片或粒形狀不規(guī)則,面積很難準(zhǔn)確測定,故根據(jù)樣品重量計算結(jié)果,使用的樣品重量為50g~300g,檢測限為0.01ng/mL。
英文名稱:  Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):  已作廢
什么是替代情況? 替代情況:  GB/T 24582-2023代替
什么是中標(biāo)分類? 中標(biāo)分類:  冶金>>半金屬與半導(dǎo)體材料>>H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
什么是ICS分類?  ICS分類:  電氣工程>>29.045半導(dǎo)體材料
發(fā)布部門:  中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
發(fā)布日期:  2009-10-30
實施日期:  2010-06-01
作廢日期:  2024-03-01
首發(fā)日期:  2009-10-30
提出單位:  全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 203)
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 203)
主管部門:  全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 203)
起草單位:  新光硅業(yè)科技責(zé)任有限公司
起草人:  王波、過惠芬、吳道榮、梁洪、敖細平
計劃單號:  20073569-T-469
頁數(shù):  8頁
出版社:  中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
書號:  155066·1-39583
出版日期:  2010-06-01
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前言
本標(biāo)準(zhǔn)由全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC203)提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)負責(zé)起草單位:新光硅業(yè)科技責(zé)任有限公司。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王波、過惠芬、吳道榮、梁洪、敖細平。

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