| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) |
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng) |
發(fā)布部門(mén) |
實(shí)施日期 |
狀態(tài) |
| GB/T 30656-2023 |
碳化硅單晶拋光片 |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2023-10-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 31092-2022 |
藍(lán)寶石單晶晶棒 |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2023-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12963-2022E |
電子級(jí)多晶硅（英文版） |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2023-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 29054-2019 |
太陽(yáng)能電池用鑄造多晶硅塊 |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2020-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 35307-2023E |
流化床法顆粒硅（英文版） |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2024-03-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 29507-2013 |
硅片平整度、厚度及總厚度變化測(cè)試 自動(dòng)非接觸掃描法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2014-02-01 |
現(xiàn)行 |
| DB13/T 5118-2019 |
4H碳化硅N型同質(zhì)外延片通用技術(shù)要求 |
河北省市場(chǎng)監(jiān)督管理局
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2019-12-28 |
廢止 |
| DB44/T 1647-2015 |
筒燈用LED模塊互換標(biāo)準(zhǔn) |
廣東省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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2015-11-03 |
作廢 |
| DL/T 2310-2021 |
電力系統(tǒng)高壓功率器件用碳化硅外延片使用條件 |
國(guó)家能源局
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2021-10-26 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 11072-2009 |
銻化銦多晶、單晶及切割片 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 11093-2007 |
液封直拉法砷化鎵單晶及切割片 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2008-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 11094-2007 |
水平法砷化鎵單晶及切割片 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2008-02-01 |
作廢 |
| GB/T 11094-2020 |
水平法砷化鎵單晶及切割片 |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2021-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12962-1996 |
硅單晶 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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1997-04-01 |
作廢 |
| GB/T 12962-2005 |
硅單晶 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2006-04-01 |
作廢 |
| GB/T 12962-2015 |
硅單晶 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2017-01-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12963-1996 |
硅多晶 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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1997-04-01 |
作廢 |
| GB/T 12963-2009 |
硅多晶 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
作廢 |
| GB/T 12963-2014 |
電子級(jí)多晶硅 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2015-09-01 |
作廢 |
| GB/T 12963-2022 |
電子級(jí)多晶硅 |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2023-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12964-1996 |
硅單晶拋光片 |
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1997-04-01 |
作廢 |
| GB/T 12964-2003 |
硅單晶拋光片 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2004-01-01 |
作廢 |
| GB/T 12964-2018 |
硅單晶拋光片 |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2019-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12965-1996 |
硅單晶切割片和研磨片 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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1997-04-01 |
作廢 |
| GB/T 12965-2005 |
硅單晶切割片和研磨片 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2006-04-01 |
作廢 |
| GB/T 12965-2018 |
硅單晶切割片和研磨片 |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2019-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 13387-2009 |
硅及其它電子材料晶片參考面長(zhǎng)度測(cè)量方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 13388-2009 |
硅片參考面結(jié)晶學(xué)取向X射線(xiàn)測(cè)試方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 13389-2014 |
摻硼摻磷摻砷硅單晶電阻率與摻雜劑濃度換算規(guī)程 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2015-09-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14139-2009 |
硅外延片 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
作廢 |
| GB/T 14139-2019 |
硅外延片 |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2020-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14140-2009 |
硅片直徑測(cè)量方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
作廢 |
| GB/T 14141-2009 |
硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測(cè)定 直排四探針?lè)? |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14144-2009 |
硅晶體中間隙氧含量徑向變化測(cè)量方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14146-2009 |
硅外延層載流子濃度測(cè)定 汞探針電容-電壓法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
作廢 |
| GB/T 14264-2009 |
半導(dǎo)體材料術(shù)語(yǔ) |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
作廢 |
| GB/T 14264-2024 |
半導(dǎo)體材料術(shù)語(yǔ) |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2024-11-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14844-2018 |
半導(dǎo)體材料牌號(hào)表示方法 |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2019-11-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14847-2010 |
重?fù)诫s襯底上輕摻雜硅外延層厚度的紅外反射測(cè)量方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2011-10-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14863-2013 |
用柵控和非柵控二極管的電壓電容關(guān)系測(cè)定硅外延層中凈載流子濃度的方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2014-08-15 |
廢止 |