太陽能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測試方法 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 30860-2014 |
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格:36.0 元 |
客戶評分:     |
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽能電池用硅片(以下簡稱硅片)的表面粗糙度及切割線痕的接觸式或非接觸式輪廓測試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于通過線切工藝加工生產(chǎn)的單晶和多晶硅片。如果需要適用于其他產(chǎn)品,則需相關(guān)各方協(xié)商同意。 |
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| 英文名稱: |
Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells |
中標(biāo)分類: |
冶金>>金屬理化性能試驗(yàn)方法>>H21金屬物理性能試驗(yàn)方法 |
ICS分類: |
冶金>>77.040金屬材料試驗(yàn) |
| 發(fā)布部門: |
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會 |
| 發(fā)布日期: |
2014-07-24 |
| 實(shí)施日期: |
2015-04-01
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| 提出單位: |
全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC203)及材料分技術(shù)委員會(SAC/TC203/SC2) |
歸口單位: |
全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC203)及材料分技術(shù)委員會(SAC/TC203/SC2) |
| 起草單位: |
中國有色金屬工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量質(zhì)量研究所、瑟米萊伯貿(mào)易(上海)有限公司、江蘇協(xié)鑫硅材料科技發(fā)展有限公司、有研半導(dǎo)體材料股份有限公司、特變電工新疆新能源股份有限公司、洛陽鴻泰半導(dǎo)體有限公司、連云港國家硅材料深加工產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心 |
| 起草人: |
徐自亮、任皓、陳佳洵、李銳、孫燕、熊金杰、楊素心、蔣建國、王麗華、薛抗美、黃黎 |
| 頁數(shù): |
16頁 |
| 出版社: |
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 |
| 出版日期: |
2015-04-01 |
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本標(biāo)準(zhǔn)按照 GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC203)及材料分技術(shù)委員會(SAC/TC203/SC2)共同提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國有色金屬工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量質(zhì)量研究所、瑟米萊伯貿(mào)易(上海)有限公司、江蘇協(xié)鑫硅材料科技發(fā)展有限公司、有研半導(dǎo)體材料股份有限公司、特變電工新疆新能源股份有限公司、洛陽鴻泰半導(dǎo)體有限公司、連云港國家硅材料深加工產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:徐自亮、任皓、陳佳洵、李銳、孫燕、熊金杰、楊素心、蔣建國、王麗華、薛抗美、黃黎。 |
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下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
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