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太陽能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測試方法

國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 30860-2014 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格:36.0 客戶評分:星星星星1
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽能電池用硅片(以下簡稱硅片)的表面粗糙度及切割線痕的接觸式或非接觸式輪廓測試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于通過線切工藝加工生產(chǎn)的單晶和多晶硅片。如果需要適用于其他產(chǎn)品,則需相關(guān)各方協(xié)商同意。
英文名稱:  Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
什么是中標(biāo)分類? 中標(biāo)分類:  冶金>>金屬理化性能試驗(yàn)方法>>H21金屬物理性能試驗(yàn)方法
什么是ICS分類?  ICS分類:  冶金>>77.040金屬材料試驗(yàn)
發(fā)布部門:  中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
發(fā)布日期:  2014-07-24
實(shí)施日期:  2015-04-01
提出單位:  全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC203)及材料分技術(shù)委員會(SAC/TC203/SC2)
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC203)及材料分技術(shù)委員會(SAC/TC203/SC2)
起草單位:  中國有色金屬工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量質(zhì)量研究所、瑟米萊伯貿(mào)易(上海)有限公司、江蘇協(xié)鑫硅材料科技發(fā)展有限公司、有研半導(dǎo)體材料股份有限公司、特變電工新疆新能源股份有限公司、洛陽鴻泰半導(dǎo)體有限公司、連云港國家硅材料深加工產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心
起草人:  徐自亮、任皓、陳佳洵、李銳、孫燕、熊金杰、楊素心、蔣建國、王麗華、薛抗美、黃黎
頁數(shù):  16頁
出版社:  中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
出版日期:  2015-04-01
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前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照 GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC203)及材料分技術(shù)委員會(SAC/TC203/SC2)共同提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國有色金屬工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量質(zhì)量研究所、瑟米萊伯貿(mào)易(上海)有限公司、江蘇協(xié)鑫硅材料科技發(fā)展有限公司、有研半導(dǎo)體材料股份有限公司、特變電工新疆新能源股份有限公司、洛陽鴻泰半導(dǎo)體有限公司、連云港國家硅材料深加工產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:徐自亮、任皓、陳佳洵、李銳、孫燕、熊金杰、楊素心、蔣建國、王麗華、薛抗美、黃黎。
引用標(biāo)準(zhǔn)
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