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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)

國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 2423.7-1995 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):已作廢
標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格:24.0 客戶評分:星星星星1
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
本試驗(yàn)方法也可用于評定安全要求的最低強(qiáng)度等級。本試驗(yàn)方法主要適用于非包裝的試驗(yàn)樣品,以及裝在可看作試驗(yàn)樣品本身的一部分的包裝箱內(nèi)的試驗(yàn)樣品。
英文名稱:  Environmental testing for electric and electronic products Part 2:Test methods Test Ec and guidance: Drop and topple Primarily for equipment-type specimens
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):  已作廢
什么是替代情況? 替代情況:  GB 2423.7-1981 GB 2424.5-1981;被GB/T 2423.7-2018代替
什么是中標(biāo)分類? 中標(biāo)分類:  電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
什么是ICS分類?  ICS分類:  試驗(yàn)>>19.040環(huán)境試驗(yàn)
什么是UDC分類?  UDC分類:  621.3;620.178.4
什么是采標(biāo)情況? 采標(biāo)情況:  idt IEC 68-2-3:1982
發(fā)布部門:  國家技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:  1995-08-29
實(shí)施日期:  1996-08-01
作廢日期:  2019-07-01
首發(fā)日期:  1981-08-10
復(fù)審日期:  2004-10-14
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門:  中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)
起草單位:  環(huán)標(biāo)委第二工作組
頁數(shù):  平裝16開, 頁數(shù):9, 字?jǐn)?shù):10千字
出版社:  中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
書號:  155066.1-12407
出版日期:  2004-04-02
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 GB/T 2424.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
 GB/T 2424.1-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
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 GB/T 2424.11-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則
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