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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞

國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 2423.6-1995 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):已作廢
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
提供一種確定樣品承受規(guī)定嚴(yán)酷等級碰撞能力的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法。
英文名稱:  Environmental testing for electric and electronic products-Part 2: Test methods-Test Eb and guidance: Bump
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):  已作廢
什么是替代情況? 替代情況:  GB 2423.6-1981 GB 2424.4-1981;被GB/T 2423.5-2019代替
什么是中標(biāo)分類? 中標(biāo)分類:  電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
什么是ICS分類?  ICS分類:  試驗>>19.040環(huán)境試驗
什么是UDC分類?  UDC分類:  621.3;620.178.7
什么是采標(biāo)情況? 采標(biāo)情況:  idt IEC 68-2-29:1987
發(fā)布部門:  國家技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:  1995-08-29
實施日期:  1996-08-01
作廢日期:  2019-12-01
首發(fā)日期:  1981-08-10
復(fù)審日期:  2004-10-14
提出單位:  中華人民共和國電子工業(yè)部
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門:  中國電器工業(yè)協(xié)會
起草單位:  環(huán)標(biāo)委第二工作組
頁數(shù):  平裝16開, 頁數(shù):11, 字?jǐn)?shù):22千字
出版社:  中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
書號:  155066.1-12406
出版日期:  1996-08-01
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 GB/T 2423.61-2018 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗和導(dǎo)則:大型試件砂塵試驗
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 GB/T 2424.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則
 GB/T 2424.1-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導(dǎo)則
 GB/T 2424.1-2015 環(huán)境試驗 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗
 GB/T 2424.10-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程大氣腐蝕加速試驗的通用導(dǎo)則
 GB/T 2424.10-2012 環(huán)境試驗 大氣腐蝕加速試驗的通用導(dǎo)則
 GB/T 2424.11-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的二氧化硫試驗導(dǎo)則
 GB/T 2424.11-2013 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗導(dǎo)則
 GB/T 2424.12-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的硫化氫試驗導(dǎo)則
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