| 標準編號 |
標準名稱 |
發(fā)布部門 |
實施日期 |
狀態(tài) |
| GB/T 2423.101-2025 |
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:傾斜和搖擺 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2026-05-01 |
即將實施 |
| GB/T 2423.102-2008 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2008-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 2423.11-1982 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Fd:寬帶隨機振動試驗方法 一般要求 |
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1983-06-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.11-1997 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fd:寬頻帶隨機振動--一般要求 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
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1998-10-01 |
作廢 |
| GB 2423.12-1982 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Fda:寬帶隨機振動試驗方法-高再現(xiàn)性 |
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1983-06-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.12-1997 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fda:寬頻帶隨機振動--高再現(xiàn)性 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
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1998-10-01 |
作廢 |
| GB 2423.13-1982 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Fdb:寬帶隨機振動試驗方法 中再現(xiàn)性 |
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1983-06-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.13-1997 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdb:寬頻帶隨機振動--中再現(xiàn)性 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
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1998-10-01 |
作廢 |
| GB 2423.14-1982 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Fdc:寬帶隨機振動試驗方法-低再現(xiàn)性 |
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1983-06-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.14-1997 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdc:寬頻帶隨機振動--低再現(xiàn)性 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
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1998-10-01 |
作廢 |
| GB 2423.15-1981 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ga:恒定加速度試驗方法 |
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1982-04-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.15-1995 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
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1996-08-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.15-2008 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則: 穩(wěn)態(tài)加速度 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2008-10-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 2423.16-1990 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗J:長霉試驗方法 |
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1990-08-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.16-1999 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導(dǎo)則:長霉 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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2000-06-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.16-2008 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J及導(dǎo)則:長霉 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2009-10-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.16-2022 |
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導(dǎo)則:長霉 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 2423.17-1981 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka:鹽霧試驗方法 |
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1982-04-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.17-1993 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ka:鹽霧試驗方法 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
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1994-07-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.17-2008 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ka:鹽霧 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2009-01-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.17-2024 |
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2025-03-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 2423.18-1985 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kb:交變鹽霧試驗方法(氯化鈉溶液) |
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作廢 |
| GB/T 2423.18-2000 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2000-08-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.18-2012 |
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2013-02-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.18-2021 |
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2021-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 2423.19-1981 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法 |
中國電器工業(yè)協(xié)會
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1982-04-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.19-2013 |
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2014-03-07 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 2423.2-1989 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法 |
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1990-01-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.2-2001 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2002-06-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.2-2008 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2009-10-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 2423.20-1981 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd: 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法 |
中國電器工業(yè)協(xié)會
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1982-04-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.20-2014 |
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2015-04-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 2423.21-1991 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 M: 低氣壓試驗方法 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
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1992-02-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.21-2008 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
|
2009-10-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.21-2025 |
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
|
2026-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 2423.22-1987 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法 |
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1988-05-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.22-2002 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
|
2003-01-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.22-2012 |
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2013-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 2423.23-1982 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Q:密封 |
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1983-09-01 |
作廢 |
| GB/T 2423.23-1995 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q:密封 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1995-08-01 |
作廢 |