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| 英文名稱： |
Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 2:Synchronous transient injection method |
 中標分類： |
電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導體集成電路 |
| ICS分類： |
電子學>>31.200集成電路、微電子學 |
| 發(fā)布部門： |
國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會 |
| 發(fā)布日期： |
2024-10-26 |
| 實施日期： |
2024-10-26
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| 提出單位： |
中華人民共和國工業(yè)和信息化部 |
| 歸口單位： |
全國集成電路標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 599) |
| 起草單位： |
中國電子技術(shù)標準化研究院、深圳市北測標準技術(shù)服務(wù)有限公司、安徽中認倍佳科技有限公司、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、廈門海諾達科學儀器有限公司、天津先進技術(shù)研究院、北京智芯微電子科技有限公司、蘇州泰思特電子科技有限公司、南京容測檢測技術(shù)有限公司等 |
| 起草人： |
付君、崔強、方文嘯、吳建飛、張海峰、張艷艷、莫國延、李旸、梁吉明、胡小軍、邢立文、鄭益民、楊紅波、董奇峰、熊宇飛、顏偉、褚瑞、康志能、魏海紅、陳梅雙 |
| 頁數(shù)： |
28頁 |
| 出版社： |
中國標準出版社 |