| 標準編號 |
標準名稱 |
發(fā)布部門 |
實施日期 |
狀態(tài) |
| GB/T 44635-2024 |
靜電放電敏感度試驗 傳輸線脈沖 器件級 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-09-29 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44777-2024 |
知識產(chǎn)權（IP）核保護指南 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-10-26 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44795-2024 |
系統(tǒng)級封裝（SiP）一體化基板通用要求 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-10-26 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44798-2024 |
復雜集成電路設計保證指南 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-10-26 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44801-2024 |
系統(tǒng)級封裝（SiP）術語 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-10-26 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44806.1-2024 |
集成電路 收發(fā)器的EMC評估 第1部分：通用條件和定義 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-10-26 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44807.1-2024 |
集成電路電磁兼容建模 第1部分：通用建�？蚣� |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-10-26 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44807.2-2025 |
集成電路電磁兼容建模 第2部分：集成電路電磁干擾特性仿真模型 傳導發(fā)射建模（ICEM-CE） |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2026-04-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44807.3-2025 |
集成電路電磁兼容建模 第3部分：集成電路電磁干擾特性仿真模型 輻射發(fā)射建模（ICEM-RE） |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2026-07-01 |
即將實施 |
| GB/T 44924-2024 |
半導體集成電路 射頻發(fā)射器/接收器測試方法 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2025-04-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44937.1-2025 |
集成電路 電磁發(fā)射測量 第1部分: 通用條件和定義 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2026-07-01 |
即將實施 |
| GB/T 44937.2-2025 |
集成電路 電磁發(fā)射測量 第2部分：輻射發(fā)射測量 TEM小室和寬帶TEM小室法 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2026-07-01 |
即將實施 |
| GB/T 44937.3-2025 |
集成電路 電磁發(fā)射測量 第3部分：輻射發(fā)射測量 表面掃描法 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2026-07-01 |
即將實施 |
| GB/T 44937.4-2024 |
集成電路 電磁發(fā)射測量 第4部分：傳導發(fā)射測量 1Ω/150Ω直接耦合法 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-12-31 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44937.5-2025 |
集成電路 電磁發(fā)射測量 第5部分：傳導發(fā)射測量 工作臺法拉第籠法 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2026-07-01 |
即將實施 |
| GB/T 44937.6-2025 |
集成電路 電磁發(fā)射測量 第6部分：傳導發(fā)射測量 磁場探頭法 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2026-07-01 |
即將實施 |
| GB/T 44937.8-2025 |
集成電路 電磁發(fā)射測量 第8部分：輻射發(fā)射測量 IC帶狀線法 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2026-07-01 |
即將實施 |
| GB 4590-1984 |
半導體集成電路機械和氣候試驗方法 |
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1985-05-01 |
作廢 |
| GB/T 46894-2025 |
車輛集成電路電磁兼容試驗通用規(guī)范 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2026-07-01 |
即將實施 |
| GB 4719-1984 |
半導體集成電路新產(chǎn)品定型鑒定的程序規(guī)則 |
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1985-06-01 |
作廢 |
| GB 4855-1984 |
半導體集成電路線性放大器系列和品種 |
國家標準局
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1985-10-01 |
作廢 |
| GB 5228-1985 |
半導體集成電路音響電路系列和品種 |
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1986-04-01 |
作廢 |
| GB 5965-1986 |
半導體集成電路雙極型門電路空白詳細規(guī)范 |
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1986-09-01 |
作廢 |
| GB/T 5965-2000 |
半導體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 第一篇 雙極型單片數(shù)字集成電路門電路（不包括自由邏輯陣列）空白詳細規(guī)范 |
國家質量技術監(jiān)督局
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2000-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 6304-1986 |
電子器件詳細規(guī)范 半導體集成電路CD7176CP伴音中頻放大電路(可供認證用) |
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1986-12-01 |
作廢 |
| GB 6305-1986 |
電子器件詳細規(guī)范 半導體集成電路CD7609CP行、場掃描電路(可供認證用) |
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1986-12-01 |
作廢 |
| GB 6647-1986 |
半導體集成電路4位微型機電路系列和品種 |
國家標準局
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1987-08-01 |
作廢 |
| GB/T 6648-1986 |
半導體集成電路靜態(tài)讀/寫存儲器空白詳細規(guī)范(可供認證用) |
國家標準局
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1987-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 6649-1986 |
半導體集成電路外殼總規(guī)范 |
國家標準局
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1987-08-01 |
作廢 |
| GB 6793-1986 |
半導體集成接口電路讀出放大器測試方法的基本原理 |
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1987-07-01 |
作廢 |
| GB 6794-1986 |
半導體集成接口電路磁芯存儲器驅動器測試方法的基本原理 |
|
1987-07-01 |
作廢 |
| GB 6795-1986 |
半導體集成接口電路外圍驅動器測試方法的基本原理 |
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1987-07-01 |
作廢 |
| GB 6796-1986 |
半導體集成接口電路線電路測試方法的基本原理 |
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1987-07-01 |
作廢 |
| GB 6797-1986 |
半導體集成接口電路電平轉換器測試方法的基本原理 |
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1987-07-01 |
作廢 |
| GB 6798-1986 |
半導體集成接口電路電壓比較器測試方法的基本原理 |
|
1987-07-01 |
作廢 |
| GB/T 6798-1996 |
半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理 |
國家技術監(jiān)督局
|
1997-01-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 6799-1986 |
半導體集成接口電路顯示驅動器測試方法的基本原理 |
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1987-07-01 |
作廢 |
| GB 6800-1986 |
半導體集成音響電路音頻功率放大器測試方法的基本原理 |
國家標準局
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1987-07-01 |
作廢 |
| GB/T 6811-1986 |
半導體集成非線性電路系列和品種 數(shù)字/模擬轉換器和模擬/數(shù)字轉換器的品種 |
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1987-08-01 |
作廢 |
| GB/T 6812-1986 |
半導體集成非線性電路系列和品種 模擬乘-除法器的品種 |
信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
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1987-08-01 |
作廢 |