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| 英文名稱： |
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2:Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method |
 中標(biāo)分類： |
電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路 |
| ICS分類： |
電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué) |
| 采標(biāo)情況： |
IEC 62132-2:2010 |
| 發(fā)布部門： |
國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會 |
| 發(fā)布日期： |
2024-10-26 |
| 實施日期： |
2024-10-26
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| 提出單位： |
全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 599) |
| 歸口單位： |
全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 599) |
| 起草單位： |
中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、中國汽車工程研究院股份有限公司、安徽中認(rèn)倍佳科技有限公司、廈門海諾達(dá)科學(xué)儀器有限公司、深圳市北測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司、北京智芯微電子科技有限公司、天津先進(jìn)技術(shù)研究院、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、中國家用電器研究院等 |
| 起草人： |
付君、崔強、黃雪梅、喬彥彬、吳建飛、方文嘯、朱賽、亓新、李旸、梁吉明、謝玉章、張紅升、熊偉杰、張艷艷、周昕、鄭益民、王雪、熊璞、張金玲、麥強、康志能、陳梅雙 |
| 頁數(shù)： |
28頁 |
| 出版社： |
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 |