| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) |
標(biāo)準(zhǔn)名稱 |
發(fā)布部門 |
實(shí)施日期 |
狀態(tài) |
| SJ/T 10428-1993 |
54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列高速CMOS數(shù)字集成電路 空白詳細(xì)規(guī)范(可供認(rèn) |
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1994-06-01 |
廢止 |
| SJ/T 10469-1994 |
錄像機(jī)電視接收單通用技術(shù)條件 |
電子工業(yè)部
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1994-10-01 |
廢止 |
| SJ/T 10524-1994 |
VHS型錄像磁帶盒通用技術(shù)條件 |
電子工業(yè)部
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1994-12-01 |
廢止 |
| SJ/T 10527-1994 |
立體聲拾音頭總技術(shù)條件 |
電子工業(yè)部
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1994-12-01 |
現(xiàn)行 |
| SJ/T 10584-1994 |
微電子學(xué)光掩蔽技術(shù)術(shù)語(yǔ) |
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1994-12-01 |
現(xiàn)行 |
| SJ/T 10593-1994 |
錄像機(jī)維修性要求 |
電子工業(yè)部
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1995-04-01 |
廢止 |
| SJ/T 10607-1994 |
半導(dǎo)體集成電路門陣列設(shè)計(jì)總則 |
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1995-04-01 |
廢止 |
| SJ/T 10686-1995 |
安全電氣隔離用光電耦合器要求和試驗(yàn) |
電子工業(yè)部
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1996-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10692-1996 |
汽車用盒式磁帶放音機(jī)運(yùn)帶機(jī)構(gòu)總技術(shù)條件 |
電子工業(yè)部
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1996-11-01 |
現(xiàn)行 |
| SJ/T 10710-1996 |
非廣播磁帶錄像機(jī)磁頭型號(hào)命名方法 |
電子工業(yè)部
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1996-11-01 |
廢止 |
| SJ/T 10718-1996 |
電子器件設(shè)計(jì)文件編制示例 |
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1996-11-01 |
廢止 |
| SJ/T 10720-1996 |
電子產(chǎn)品安全性名詞術(shù)語(yǔ) |
電子工業(yè)部
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1996-11-01 |
廢止 |
| SJ/T 10730-1997 |
VCD視盤機(jī)通用規(guī)范 |
電子工業(yè)部
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1997-01-10 |
現(xiàn)行 |
| SJ/T 10734-1996 |
半導(dǎo)體集成電路文字符號(hào) 電參數(shù)文字符號(hào) |
國(guó)家機(jī)械工業(yè)局
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10735-1996 |
半導(dǎo)體集成電路 TTL電路測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10736-1996 |
半導(dǎo)體集成電路 HTL電路測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10737-1996 |
半導(dǎo)體集成電路 ECL電路測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
現(xiàn)行 |
| SJ/T 10738-1996 |
半導(dǎo)體集成電路 運(yùn)算(電壓)放大器測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10739-1996 |
半導(dǎo)體集成電路 MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10740-1996 |
半導(dǎo)體集成電路 雙極型隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10741-1996 |
半導(dǎo)體集成電路 CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
作廢 |
| SJ/T 10746-1996 |
半導(dǎo)體集成電路新產(chǎn)品定型鑒定的程序規(guī)則 |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10783-1996 |
電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CD7176CP伴音中頻放大電路(可供認(rèn)證用) |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10784-1996 |
電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CD7609CP行、場(chǎng)掃描電路(可供認(rèn)證用) |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10800-1996 |
半導(dǎo)體集成接口電路讀出放大器測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10801-1996 |
半導(dǎo)體集成接口電路磁芯存儲(chǔ)器驅(qū)動(dòng)器測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10802-1996 |
半導(dǎo)體集成接口電路外圍驅(qū)動(dòng)器測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10803-1996 |
半導(dǎo)體集成接口電路線電路測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10804-1996 |
半導(dǎo)體集成接口電路電平轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
作廢 |
| SJ/T 10805-1996 |
半導(dǎo)體集成接口電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
作廢 |
| SJ/T 10806-1996 |
半導(dǎo)體集成接口電路顯示驅(qū)動(dòng)器測(cè)試方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10808-1996 |
電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1000型TTL四2輸入與非門(可供認(rèn)證用) |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10809-1996 |
電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1002型TTL四2輸入與非門(可供認(rèn)證用) |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10810-1996 |
電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1004型TTL六反相器(可供認(rèn)證用) |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10811-1996 |
電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1008型TTL四2輸入與非門(可供認(rèn)證用) |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10812-1996 |
電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1010型TTL三3輸入與非門(可供認(rèn)證用) |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10813-1996 |
電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1020型TTL雙4輸入與非門(可供認(rèn)證用) |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10814-1996 |
電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1027型TTL三3輸入與非門(可供認(rèn)證用) |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10815-1996 |
電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1030型TTL8輸入與非門(可供認(rèn)證用) |
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1997-01-01 |
廢止 |
| SJ/T 10816-1996 |
電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1040型TTL雙4輸入與非緩沖器(可供認(rèn)證用) |
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1997-01-01 |
廢止 |