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半導(dǎo)體集成電路 MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理

標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):SJ/T 10739-1996 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):已廢止
標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格:22.0 客戶評(píng)分:星星星星1
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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
英文名稱:  Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for MOS random access memories
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):  已廢止
什么是替代情況? 替代情況:  原標(biāo)準(zhǔn)號(hào)GB 3443-82
什么是中標(biāo)分類? 中標(biāo)分類:  化工>>化工綜合>>G01技術(shù)管理
什么是采標(biāo)情況? 采標(biāo)情況:  IEC 147-2 NEQ
發(fā)布日期:  1996-11-20
實(shí)施日期:  1997-01-01
作廢日期:  2010-01-20
頁(yè)數(shù):  31頁(yè)
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