無(wú)損檢測(cè) 磁記憶檢測(cè) 總則 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 26641-2011 |
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：已作廢 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：29.0 元 |
客戶評(píng)分：  |
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本標(biāo)準(zhǔn)有現(xiàn)貨可當(dāng)天發(fā)貨一線城市最快隔天可到！ |
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對(duì)鐵磁性金屬材料、構(gòu)件及焊縫進(jìn)行磁記憶檢測(cè)的一般原則。
奧氏體不銹鋼構(gòu)件和焊縫在一定條件下具有磁性,也可參考本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行磁記憶檢測(cè)。
本標(biāo)準(zhǔn)為有關(guān)具體產(chǎn)品、設(shè)備、材料的磁記憶檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或書(shū)面作業(yè)指導(dǎo)書(shū)的制定提供指南。除有特殊規(guī)定外,本標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容為最低要求。 |
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| 英文名稱： |
Non-destructive testing—Magnetic memory testing—General principles |
| 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)： |
已作廢 |
 替代情況： |
被GB/T 26641-2021代替 |
| 中標(biāo)分類： |
機(jī)械>>機(jī)械綜合>>J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法 |
| ICS分類： |
試驗(yàn)>>19.100無(wú)損檢測(cè) |
| 發(fā)布部門(mén)： |
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì) |
| 發(fā)布日期： |
2011-06-16 |
| 實(shí)施日期： |
2012-03-01
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| 作廢日期： |
2022-07-01
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| 首發(fā)日期： |
2011-06-16 |
| 歸口單位： |
全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 56) |
| 主管部門(mén)： |
全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 56) |
| 起草單位： |
中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院、愛(ài)德森(廈門(mén))電子有限公司、清華大學(xué)、北京工業(yè)大學(xué)、北京航空材料研究院、北京航空航天大學(xué)、華北電力科學(xué)研究院、上海泰司檢測(cè)科技有限公司、上海材料研究所 |
| 起草人： |
沈功田、胡斌、陳鋼、林俊明、李路明、張亦良、高廣興、徐可北、雷銀照、胡先龍、金宇飛 |
| 頁(yè)數(shù)： |
12頁(yè) |
| 出版社： |
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社 |
| 書(shū)號(hào)： |
155066·1-43680 |
| 出版日期： |
2012-03-01 |
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本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC56)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院、愛(ài)德森(廈門(mén))電子有限公司、清華大學(xué)、北京工業(yè)大學(xué)、北京航空材料研究院、北京航空航天大學(xué)、華北電力科學(xué)研究院、上海泰司檢測(cè)科技有限公司、上海材料研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:沈功田、胡斌、陳鋼、林俊明、李路明、張亦良、高廣興、徐可北、雷銀照、胡先龍、金宇飛。 |
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