無損檢測 閃光燈激勵紅外熱像法 導(dǎo)則 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)編號：GB/T 26643-2011 |
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)價格：56.0 元 |
客戶評分：  |
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立即購買工即可享受本標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)變更提醒服務(wù)！ |
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了閃光燈激勵紅外熱像法無損檢測的一般原則,適用于材料和結(jié)構(gòu)的表面及近表面缺陷檢測。 |
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| 英文名稱： |
Non-destructive testing—Infrared flash thermography—Guideline |
 中標(biāo)分類： |
機(jī)械>>機(jī)械綜合>>J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法 |
| ICS分類： |
試驗>>19.100無損檢測 |
| 發(fā)布部門： |
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會 |
| 發(fā)布日期： |
2011-06-16 |
| 實施日期： |
2012-03-01
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| 首發(fā)日期： |
2011-06-16 |
| 歸口單位： |
全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 56) |
| 主管部門： |
全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 56) |
| 起草單位： |
北京維泰凱信新技術(shù)有限公司、首都師范大學(xué)、中國航空工業(yè)集團(tuán)公司北京航空材料研究院、北京理工大學(xué)、航天材料及工藝研究所、北京航空航天大學(xué)、上海泰司檢測科技有限公司、上海材料研究所 |
| 起草人： |
陶寧、王迅、郭廣平、李艷紅、朱軍輝、曾智、金萬平、張存林、伍耐明、劉穎韜、金宇飛 |
| 頁數(shù)： |
20頁【彩圖】 |
| 出版社： |
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 |
| 出版日期： |
2012-03-01 |
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本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC56)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:北京維泰凱信新技術(shù)有限公司、首都師范大學(xué)、中國航空工業(yè)集團(tuán)公司北京航空材料研究院、北京理工大學(xué)、航天材料及工藝研究所、北京航空航天大學(xué)、上海泰司檢測科技有限公司、上海材料研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:陶寧、王迅、郭廣平、李艷紅、朱軍輝、曾智、金萬平、張存林、伍耐明、劉穎韜、金宇飛。 |
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前言 Ⅰ
1 范圍 1
2 規(guī)范性引用文件 1
3 術(shù)語和定義 1
4 方法概要 1
5 檢測系統(tǒng) 2
6 試件 3
7 檢測工藝規(guī)程 4
8 數(shù)據(jù)處理和缺陷分析 6
9 安全性 10
附錄A (資料性附錄) 缺陷的熱圖分析示例 11
附錄B(資料性附錄) 微分熱圖的應(yīng)用示例 12
附錄C (資料性附錄) 缺陷的曲線分析示例 13 |
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下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T5616 無損檢測 應(yīng)用導(dǎo)則
GB/T12604.9 無損檢測 術(shù)語 紅外檢測
GB/T20737 無損檢測 通用術(shù)語和定義(ISO/TS18173) |
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