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標(biāo)準(zhǔn)編號：JB/T 8268-1999	標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：已作廢

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標(biāo)準(zhǔn)簡介


英文名稱：	Standard test method for surface defect of photoconductor for electrostatic process
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：	已作廢
替代情況：	JB 8268-1995(原標(biāo)準(zhǔn)號GB 10996-89);被JB/T 8268-2015代替
中標(biāo)分類：	儀器、儀表>>電影、照相、縮微、復(fù)印設(shè)備>>N47縮微復(fù)印機(jī)械
發(fā)布部門：	國家機(jī)械工業(yè)局
發(fā)布日期：	1999-08-06
實(shí)施日期：	2000-01-01
作廢日期：	2015-10-01
歸口單位：	全國復(fù)印機(jī)械標(biāo)委會
頁數(shù)：	5頁
出版社：	機(jī)械工業(yè)出版社
出版日期：	2000-01-01

縮微復(fù)印機(jī)械相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)	第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁
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