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硅片彎曲度測試方法

國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 6619-1995 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):已作廢
標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格:28.0 客戶評(píng)分:星星星星1
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅單晶切割片、研磨片、拋光片彎曲度的接觸式測量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測量直徑大于50mm,厚度為200~1000μm的圓形硅片的彎曲度。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于測量其他半導(dǎo)體圓片彎曲度。
英文名稱:  Test methods for bow of silicon slices
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):  已作廢
什么是替代情況? 替代情況:  替代GB 6619-1986;被GB/T 6619-2009代替
什么是中標(biāo)分類? 中標(biāo)分類:  冶金>>金屬理化性能試驗(yàn)方法>>H21金屬物理性能試驗(yàn)方法
什么是ICS分類?  ICS分類:  29.040.30
什么是UDC分類?  UDC分類:  669.782-415;620.173.26
什么是采標(biāo)情況? 采標(biāo)情況:  =ASTM F534-91
發(fā)布部門:  國家技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:  1995-04-18
實(shí)施日期:  1995-01-02
作廢日期:  2010-06-01
首發(fā)日期:  1985-06-17
復(fù)審日期:  2004-10-14
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國半導(dǎo)體材料和設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門:  國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位:  電子部標(biāo)準(zhǔn)化所
頁數(shù):  平裝16開, 頁數(shù):7, 字?jǐn)?shù):10千字
出版社:  中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
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