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國家標(biāo)準(zhǔn)(GB)
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硅片彎曲度測試方法
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):
GB/T 6619-1995
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):
已作廢
標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格:
28.0
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅單晶切割片、研磨片、拋光片彎曲度的接觸式測量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測量直徑大于50mm,厚度為200~1000μm的圓形硅片的彎曲度。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于測量其他半導(dǎo)體圓片彎曲度。
英文名稱:
Test methods for bow of silicon slices
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):
已作廢
替代情況:
替代
GB 6619-1986
;被GB/T 6619-2009代替
中標(biāo)分類:
冶金
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金屬理化性能試驗(yàn)方法
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H21金屬物理性能試驗(yàn)方法
ICS分類:
29.040.30
UDC分類:
669.782-415;620.173.26
采標(biāo)情況:
=ASTM F534-91
發(fā)布部門:
國家技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:
1995-04-18
實(shí)施日期:
1995-01-02
作廢日期:
2010-06-01
首發(fā)日期:
1985-06-17
復(fù)審日期:
2004-10-14
歸口單位:
全國半導(dǎo)體材料和設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門:
國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位:
電子部標(biāo)準(zhǔn)化所
頁數(shù):
平裝16開, 頁數(shù):7, 字?jǐn)?shù):10千字
出版社:
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
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ZC 0010-2006 采用公歷標(biāo)示日期的規(guī)范(試行)
ZC 0011-2006 專利費(fèi)用基本信息代碼規(guī)范(試行)
ZC 0012.1-2006 專利數(shù)據(jù)元素標(biāo)準(zhǔn)第1部分:關(guān)于用XML處理復(fù)審請(qǐng)求審查決定、無效請(qǐng)求審查決定和司法判決文件的暫行辦法
ZC 0012.2-2006 專利數(shù)據(jù)元素標(biāo)準(zhǔn)第2部分:關(guān)于用XML處理中國發(fā)明、實(shí)用新型專利文獻(xiàn)數(shù)據(jù)的暫行辦法
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