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| 英文名稱(chēng)： |
General specification of X-ray EDS quantitative analysis for EPMA and SEM |
| 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)： |
已作廢 |
 替代情況： |
被GB/T 17359-2012代替 |
| 中標(biāo)分類(lèi)： |
儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器 |
| ICS分類(lèi)： |
成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備 |
| 發(fā)布部門(mén)： |
國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局 |
| 發(fā)布日期： |
1998-05-08 |
| 實(shí)施日期： |
1998-12-01
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| 作廢日期： |
2013-02-01
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| 首發(fā)日期： |
1998-05-08 |
| 復(fù)審日期： |
2004-10-14 |
| 提出單位： |
全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì) |
| 歸口單位： |
全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì) |
| 主管部門(mén)： |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì) |
| 起草單位： |
中國(guó)有色金屬工業(yè)總公司北京有色金屬研究總院、地礦部地質(zhì)科學(xué)研究院礦床地質(zhì)研究所、核工業(yè)部北京地質(zhì)研究院 |
| 起草人： |
劉安生、周劍雄、張宜 |
| 頁(yè)數(shù)： |
9頁(yè) |
| 出版社： |
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社 |
| 書(shū)號(hào)： |
155066.1-15359 |
| 出版日期： |
1998-11-01 |
| 標(biāo)準(zhǔn)前頁(yè)： |
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