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| 英文名稱： |
Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods |
 中標分類： |
電子元器件與信息技術>>光電子器件>>L50光電子器件組合 |
| ICS分類： |
電子學>>31.260光電子學、激光設備 |
| 采標情況： |
IEC 60747-5-3:1997,IDT |
| 發(fā)布部門： |
中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 |
| 發(fā)布日期： |
2003-01-01 |
| 實施日期： |
2004-08-01
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| 首發(fā)日期： |
2003-11-24 |
| 復審日期： |
2023-12-28 |
| 提出單位： |
中華人民共和國信息產業(yè)部 |
| 歸口單位： |
全國半導體器件標準化技術委員會 |
| 主管部門： |
信息產業(yè)部（電子） |
| 起草單位： |
華禹光谷股份有限公司半導體廠 |
| 起草人： |
陳蘭、那仁、王守華 |
| 頁數： |
16開， 頁數：27， 字數：48千字 |
| 出版社： |
中國標準出版社 |
| 書號： |
155066.1-20664 |
| 出版日期： |
2004-08-01 |
| 標準前頁： |
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