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| 英文名稱： |
Photovoltaic cells—Part 4:Measurement of light and elevated temperature induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells |
 中標(biāo)分類： |
電工>>電源>>K83物理電源 |
| ICS分類： |
27.16 |
| 采標(biāo)情況： |
IEC TS 63202-4:2022 |
| 發(fā)布部門： |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì) |
| 發(fā)布日期： |
2026-01-04 |
| 實(shí)施日期： |
2026-01-04
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| 提出單位： |
中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部 |
| 歸口單位： |
全國(guó)太陽(yáng)光伏能源系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 90) |
| 主管部門： |
全國(guó)太陽(yáng)光伏能源系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 90) |
| 起草單位： |
嘉興阿特斯技術(shù)研究院有限公司、中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、隆基綠能科技股份有限公司、通威太陽(yáng)能(成都)有限公司、阿特斯陽(yáng)光電力集團(tuán)股份有限公司、晶科能源(海寧)有限公司、東方日升新能源股份有限公司、宣城先進(jìn)光伏技術(shù)有限公司 |
| 起草人： |
張達(dá)奇、裴會(huì)川、李振國(guó)、王栩生、李金雨、蔣方丹、郭素琴、李寧、劉亞鋒、周曉波、李其聰 |
| 頁(yè)數(shù)： |
12頁(yè) |
| 出版社： |
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社 |