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微束分析 分析電子顯微術(shù) 金屬中納米顆粒數(shù)密度的測(cè)定方法

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 43883-2024 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本文件描述了應(yīng)用透射電子顯微鏡/掃描透射電子顯微鏡(TEM/STEM)技術(shù)測(cè)定金屬材料中納米級(jí)第二相顆粒數(shù)密度的方法。
本文件適用于測(cè)定金屬材料中彌散分布、粒徑在幾納米至幾十納米范圍的第二相顆粒的數(shù)密度。被測(cè)顆粒的平均尺寸宜在透射電鏡試樣厚度的約1/3以下,且試樣中的顆粒在透射電鏡圖像上沒(méi)有互相重疊或很少重疊。顆粒尺寸不在這個(gè)范圍的試樣可參照?qǐng)?zhí)行,其他晶體材料可參照?qǐng)?zhí)行。
本方法不適于測(cè)定聚集成團(tuán)的第二相顆粒的數(shù)密度。
注1:可測(cè)定的最小顆粒尺寸取決于所用TEM/STEM設(shè)備的分辨率和采用的實(shí)驗(yàn)技術(shù)。
注2:待測(cè)定的第二相顆粒尺寸通常在5 nm~40 nm范圍。
注3:TEM圖像上若出現(xiàn)第二相顆粒重疊的情況,將增大顆粒計(jì)數(shù)的不確定度。
英文名稱(chēng):  Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for determining the number density of nanoparticles in a metal
什么是中標(biāo)分類(lèi)? 中標(biāo)分類(lèi):  儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
什么是ICS分類(lèi)?  ICS分類(lèi):  化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.99有關(guān)化學(xué)分析方
發(fā)布部門(mén):  國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
發(fā)布日期:  2024-04-25
實(shí)施日期:  2024-11-01
提出單位:  全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)
起草單位:  中國(guó)航發(fā)北京航空材料研究院、北京科技大學(xué)、牛津儀器科技(上海)有限公司
起草人:  婁艷芝 柳得櫓 徐寧安
頁(yè)數(shù):  32頁(yè)
出版社:  中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
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