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| 英文名稱： |
Specifications for low/high temperature test chambers |
| 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)： |
已作廢 |
 替代情況： |
被GB/T 10592-2023代替;替代GB/T 10592-1989 |
| 中標(biāo)分類： |
儀器、儀表>>儀器、儀表綜合>>N04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法 |
| ICS分類： |
試驗>>19.040環(huán)境試驗 |
| 發(fā)布部門： |
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會 |
| 發(fā)布日期： |
2008-04-11 |
| 實施日期： |
2008-11-01
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| 作廢日期： |
2023-10-01
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| 提出單位： |
中國機械工業(yè)聯(lián)合會 |
| 歸口單位： |
機械工業(yè)儀器儀表綜合技術(shù)經(jīng)濟研究所 |
| 起草單位： |
重慶銀河試驗儀器有限公司、上海實驗儀器廠有限公司、信產(chǎn)部電子第五研究所等 |
| 起草人： |
王華斌、馮明康、賴文光、陸禮明、陳云生、蒯正心、倪一明、許清祿 |
| 出版社： |
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 |
| 書號： |
155066·1-32104 |