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| 英文名稱： |
Reliability growth—Statistical test and estimation methods |
 中標(biāo)分類： |
電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L05可靠性和可維護性 |
| ICS分類： |
03.120.01;03.120.30 |
| 采標(biāo)情況： |
IEC 61164:2004 IDT |
| 發(fā)布部門： |
國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會 |
| 發(fā)布日期： |
2021-03-09 |
| 實施日期： |
2021-10-01
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| 提出單位： |
中華人民共和國工業(yè)和信息化部 |
| 歸口單位： |
全國電工電子產(chǎn)品可靠性與維修性標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 24) |
| 起草單位： |
工業(yè)和信息化部電子第五研究所、北京航空工程技術(shù)研究中心 |
| 起草人： |
李鍇、丁小健、潘廣澤、胡湘洪、梅文華、黃創(chuàng)綿、陳靜、張洪彬、佘陽、李小兵、朱嘉偉、沈崢嶸、唐慶云 |
| 頁數(shù)： |
40頁【彩圖】 |
| 出版社： |
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 |
| 出版日期： |
2021-03-01 |