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| 英文名稱： |
Electronic characteristic measurements—Local critical current density and its distribution in large-area superconducting films |
 中標(biāo)分類： |
電工>>電工材料和通用零件>>K10電工材料和通用零件綜合 |
| ICS分類： |
17.220.20;29.050 |
| 采標(biāo)情況： |
IEC 60050-815 IDT |
| 發(fā)布部門： |
國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會 |
| 發(fā)布日期： |
2021-03-09 |
| 實施日期： |
2021-10-01
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| 提出單位： |
中國科學(xué)院 |
| 歸口單位： |
全國超導(dǎo)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 265) |
| 起草單位： |
上海大學(xué)、電子科技大學(xué)、上海上創(chuàng)超導(dǎo)科技有限公司、中國科學(xué)院物理研究所 |
| 起草人： |
蔡傳兵、劉志勇、李潔、李敏娟、張永軍、陶伯萬、郭艷群、白傳易、熊杰 |
| 頁數(shù)： |
40頁【彩圖】 |
| 出版社： |
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 |