光柵式測微儀校準規(guī)范 |
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| 標準編號：JJF 1682-2017 |
標準狀態(tài)：現(xiàn)行 |
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| 標準價格：27.0 元 |
客戶評分：  |
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本規(guī)范適用于0.1 μm級行程為0～10 mm、0.2 μm級行程為0～25 mm、0.5 μm級行程為0～50 mm、1 μm級～10 μm級行程為0～100 mm的光柵式測微儀校準。 |
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| 英文名稱： |
Calibration Specification for Grating Micrometers |
 替代情況： |
替代JJG 989-2004 |
| 發(fā)布部門： |
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 |
| 發(fā)布日期： |
2017-11-20 |
| 實施日期： |
2018-05-20
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| 歸口單位： |
全國幾何量工程參量計量技術(shù)委員會 |
| 主管部門： |
全國幾何量工程參量計量技術(shù)委員會 |
| 起草單位： |
中國科學(xué)院光電技術(shù)研究所、中國測試技術(shù)研究院 |
| 起草人： |
曹學(xué)東、匡龍、冉慶 |
| 頁數(shù)： |
28頁 |
| 出版社： |
中國標準出版社 |
| 出版日期： |
2018-05-01 |
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