電子級水中微粒的儀器測試方法 |
 |
| 標準編號：GB/T 11446.9-2013 |
標準狀態(tài)：現(xiàn)行 |
|
| 標準價格：28.0 元 |
客戶評分：  |
|
|
本標準有現(xiàn)貨可當天發(fā)貨一線城市最快隔天可到！ |
|
|
|
|
|
GB/T11446的本部分規(guī)定了電子級水中微粒的儀器測定方法。
本部分適用于電子級水中微粒的連續(xù)式或單次檢測計數(shù),測定的微粒粒徑不小于0.05μm,微粒的濃度范圍為0~10000個/mL。 |
|
|
|
| 英文名稱： |
Test method for particles in electronic grade water by instrument |
 替代情況： |
替代GB/T 11446.9-1997 |
| 中標分類： |
電子元器件與信息技術(shù)>>電子設(shè)備專用材料、零件、結(jié)構(gòu)件>>L90電子技術(shù)專用材料 |
| ICS分類： |
31-030 |
| 發(fā)布部門： |
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會 |
| 發(fā)布日期： |
2013-12-31 |
| 實施日期： |
2014-08-15
|
| 提出單位： |
中華人民共和國工業(yè)和信息化部 |
| 歸口單位： |
中國電子技術(shù)標準化研究院 |
| 主管部門： |
中國電子技術(shù)標準化研究院 |
| 起草單位： |
信息產(chǎn)業(yè)部專用材料質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心、中國科學院半導體研究所、中國電子技術(shù)標準化研究院、中國電子科技集團公司第四十六研究所 |
| 起草人： |
王奕、褚連青、何秀坤、段曙光、提劉旺、劉筠 |
| 頁數(shù)： |
8頁 |
| 出版社： |
中國標準出版社 |
| 出版日期： |
2014-08-15 |
|
|
|
GB/T11446預計結(jié)構(gòu)如下:
———GB/T11446.1 電子級水;
———GB/T11446.2 (待定);
———GB/T11446.3 電子級水測試方法通則;
———GB/T11446.4 電子級水電阻率的測試方法;
———GB/T11446.5 電子級水中痕量金屬的原子吸收分光光度測試方法;
———GB/T11446.6 電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法;
———GB/T11446.7 電子級水中痕量陰離子的離子色譜測試方法;
———GB/T11446.8 電子級水中總有機碳的測試方法;
———GB/T11446.9 電子級水中微粒的儀器測試方法;
———GB/T11446.10 電子級水中細菌總數(shù)的濾膜培養(yǎng)測試方法。
本部分為GB/T11446的第9部分。
本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本部分代替GB/T11446.9—1997《電子級水中微粒的儀器測試方法》。
本部分與GB/T11446.9—1997相比,主要有下列變化:
———重新對“3.1微�！边M行了定義(見第3章);
———增加了“5干擾因素”(見第5章);
———刪除了“11注意事項”(見1997年版的第11章);
———修訂了Pi 的定義。
本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出。
本部分由中國電子技術(shù)標準化研究院歸口。
本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部專用材料質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心、中國科學院半導體研究所、中國電子技術(shù)標準化研究院、中國電子科技集團公司第四十六研究所。
本部分主要起草人:王奕、褚連青、何秀坤、段曙光、提劉旺、劉筠。
本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T11446.9—1989、GB/T11446.9—1997。 |
|
|
下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T11446.1—2013 電子級水
GB/T11446.3—2013 電子級水測試方法通則 |
|
|
|
| |