下列文件中的條款通過GB/T26804的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。
GB/T2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱(12h+12h循環(huán))(GB/T2423.4—2008,IEC60068-2-30:2005,IDT)
GB/T15479—1995 工業(yè)自動(dòng)化儀表絕緣電阻、絕緣強(qiáng)度技術(shù)要求和試驗(yàn)方法
GB/T17626.2 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)(GB/T17626.2—2006,IEC61000-4-2:2001,IDT)
GB/T17626.3 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)(GB/T17626.3—2006,IEC61000-4-3:2002,IDT)
GB/T17626.4 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)(GB/T17626.4—2008,IEC61000-4-4:2004,IDT)
GB/T17626.5 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)(GB/T17626.5—2008,IEC61000-4-5:2005,IDT)
GB/T17626.6 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)(GB/T17626.6—2008,IEC61000-4-6:2006,IDT)
GB/T17626.8 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 工頻磁場抗擾度試驗(yàn)(GB/T17626.8—2006,IEC61000-4-8:2001,IDT)
GB/T17626.11 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)(GB/T17626.11—2008,IEC61000-4-11:2004,IDT)
GB/T18271.3—2000 過程測量和控制裝置 通用性能評(píng)定方法和程序 第3部分:影響量影響的試驗(yàn)(idtIEC61298-3:1998)
GB/T26802.1—2011 工業(yè)控制計(jì)算機(jī)系統(tǒng) 通用規(guī)范 第1部分:通用要求
GB/T26804.5—2011 工業(yè)控制計(jì)算機(jī)系統(tǒng) 功能模塊模板 第5部分 數(shù)字量輸入輸出通道模板通用技術(shù)條件 |
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